Genvägar

  

Svepelektronmikroskopi med EDS-analys

  

Tjänsteutbud SEM/EDS

 
Kontaktpersoner: Lars Andersson & Catarina Wernlund

Safe Control kan erbjuda ett utökat och fördjupat tjänsteutbud.
Vårt laboratorium får genom svepelektronmikroskopet en ökad
flexibilitet och kan utföra fler och bättre undersökningar/analyser
för våra kunder.

Ett svepelektronmikroskop (SEM) används bl.a. för att göra
förstorade avbilder av mindre föremål och partiklar.
Fördelen med ett SEM är möjligheten att se på ytor i mycket
hög förstorning, upp till 300 000 ggr förstoring. Jämfört med
ett optiskt mikroskop har man ett mycket större skärpedjup
som gör att det med fördel används för undersökningar av
exempelvis brottytor. Den största skillnaden mellan ett SEM
och ett optiskt mikroskop är att ett SEM använder sig av
elektroner istället för ljus. Med vårt instrument kan analyser
utföras i både hög- och lågvakuum. Om undersökning utförs i
högvakuum måste provet vara elektriskt ledande. I det fall
provet inte är ledande kan det beläggas med ett ledande
skikt med guld alternativt kol. I lågvakuum kan i stort sett
alla prov undersökas och analyseras.

Vårt SEM är även utrustat med energidispersiv röntgen-
spektrometer (EDS/EDX). Det ger oss möjlighet att kemiskt
analysera sammansättningen både kvalitativt och kvantitativt
på ytan av det område vi undersöker. Vi kan utföra en översikts-
analys av ett område (area analys) och/eller analysera
ett specifikt litet område, s.k. "spot check". Exempel på
användningsområden kan vara analys av en partikel,
beläggning, korrosionsprodukt eller asbestfiber.
Med hjälp av linjeanalys kan vi påvisa variationer av den
kemiska sammansättningen över en vald linje vilket fördelaktigt
kan användas för att analysera ytskikt. Vi kan även utföra en
kartläggning (s.k. mapping) över de ingående grundämnena
och visar dess fördelning samt koncentration. Resultaten för
ovanstående analyser kan redovisas som spektrum, i tabellform,
grafiskt samt i bildformat.

Safe Controls utrustning: JEOL-6510A/JSM-6510LA

 

SEM/EDS
JEOL-6510A/JSM-6510LA


Zinkskikt

 Zinkskikt

 

 

 

Asbest

Asbestfibrer


  

  

Undersökning och analys av:

  • Brottytor
  • Beläggningar
  • Korrosionsprodukter
  • Materialidentifikation
    (metallpartiklar, pulver etc.)
  • Fördelning av ingående element (x-ray mapping)
  • Faser i mikrostruktur
    (bl.a. spröda faser)
  • Slagginneslutningar
    i makro-/mikroprov
  • Asbest (damm-, luft- och vattenprov)
  • Miljöprover (t.ex. tungmetaller)
  • Färg (t.ex. bly, koppar) 
  • Ytskikt
  • Sprickor